發(fā)布時間:2010-8-15 5:23:13 作者:yztpdq 來源:本站 瀏覽量:6070 【字體:
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揚州拓普電氣科技有限公司是高精度SF6氣體檢漏儀專業(yè)生產(chǎn)廠家。本文為您詮釋高壓開關(guān)設(shè)備六氟化硫氣體密封的試驗項目。
試驗時,設(shè)備/隔室狀況應(yīng)盡可能與實際運行情況相符,如果對整臺設(shè)備/隔室進行密封試驗有困難時,可在分裝部件或元件上進行試驗。分裝部件或元件的允許漏氣率與設(shè)備/隔室的漏氣率的關(guān)系由密封對應(yīng)圖確定。
如果試品充入的氣體和/或壓力不同于正常運行中使用的氣體或壓力,制造廠應(yīng)提供校正系數(shù)加以換算。試品應(yīng)分別在分、合閘位置進行密封試驗,如已證明密封與分、合閘位置無關(guān)或其中一種位置的密封試驗?zāi)芡耆萘硪环N位置的密封試驗時,則可只在該種位置進行密封試驗。
1 常溫下的密封試驗
1.1 在常溫下,試品所充的氣體、壓力與實際運行的氣體、壓力相同,經(jīng)機械操作試驗后分別在分、合閘位置進行密封試驗。
1.2 常溫下機械壽命試驗前、后的密封試驗
常溫下機械壽命試驗前、后的密封試驗按1.1條進行。
1.3 現(xiàn)場安裝后的密封試驗
現(xiàn)場安裝對密封有影響的部位在常溫下應(yīng)進行密封試驗。如有其他要求,用戶與制造廠協(xié)商。
2 高、低溫密封試驗
2.1 條的各項規(guī)定也適用于高、低溫密封試驗。
對用于不低于-10℃的戶內(nèi)設(shè)備,不要求進行低溫密封試驗。
試驗時的周圍空氣溫度應(yīng)該在設(shè)備/隔室高度的一半及距離設(shè)備/隔室1m處測量,在設(shè)備/隔室高度的上部溫度偏差不超過5K。
2.1 低溫密封試驗
a. 在周圍空氣溫度20±5℃(TA)下,按照1.1條設(shè)備/隔室處于分、合閘位置進行密封試驗。
b. 設(shè)備/隔室處于合閘位置,根據(jù)設(shè)備/隔室的分類,將周圍空氣溫度降低到相應(yīng)的最低空氣溫度TL(TL值是-30℃或-40℃)且穩(wěn)定在TL后,保持24h期間,應(yīng)進行密封試驗。當(dāng)周圍空氣溫度恢復(fù)到TA且穩(wěn)定時的漏氣率恢復(fù)到原有值,允許低溫時的漏氣率增加,但不得大于三倍允許漏氣率。
c. 設(shè)備/隔室在低溫TL下保持分閘位置24h,在24h期間,應(yīng)進行密封試驗。如果周圍空氣溫度恢復(fù)到TA且穩(wěn)定時的漏氣率恢復(fù)到原有值,允許低溫時的漏氣率增加,但不得大于三倍允許漏氣率。
d. 24h終止時,在TL下,設(shè)備/隔室應(yīng)以其額定操作電壓及額定操作壓力進行50次合閘和50次分閘操作,然后空氣溫度應(yīng)以每小時10K的變化率增加到周圍空氣溫度且穩(wěn)定在TA,按3.1.1條重新做密封試驗,其漏氣率應(yīng)與原有值相同。
2.2 高溫密封試驗
a.在周圍空氣溫度20±5℃(TA)下,按照1.1條,設(shè)備/隔室分別處于分、合閘位置進行密封試驗。
b.設(shè)備/隔室處于合閘位置,將周圍空氣溫度升到40℃且穩(wěn)定時,保持24h。在24h期間應(yīng)進行密封試驗。如果周圍空氣溫度恢復(fù)到TA且穩(wěn)定時的漏氣率恢復(fù)到原有值,允許高溫時的漏氣率增加,但不得大于三倍允許漏氣率。
c.在溫度40℃下,設(shè)備/隔室處于分閘位置保持24h,在24h期間應(yīng)進行密封試驗,如果周圍空氣溫度恢復(fù)到TA且穩(wěn)定時的漏氣率恢復(fù)到原有值,允許高溫時的漏氣率增加,但不得大于三倍允許漏氣率。
d.24h終止,在溫度40℃下,設(shè)備/隔室應(yīng)以其額定操作電壓及額定操作壓力分別進行50次合閘到50次分閘操作,然后空氣溫度應(yīng)以每小時10K的變化率降低到周圍空氣溫度且穩(wěn)定在TA,按1.1條重新做密封試驗,其漏氣率應(yīng)與原有值相同。
注:① 低溫密封試驗與高溫密封試驗并不需連續(xù)進行,此兩項試驗的順序可以任意。
② 如果高溫密封試驗昆接著低溫密封試驗后進行,則2.2條a項可以不作,或者低溫密封試驗緊接在高溫密封試驗后進行,規(guī)2.1條a項可以不作。
2.3 當(dāng)高、低溫密封試驗測量有困難時,可在高、低溫密封試驗前、后,在常溫下進行密封試驗,以確定是否有了變化。
2.4 當(dāng)高、低溫密封試驗條件不具備時,制造廠和用戶協(xié)商,在現(xiàn)場進行考核。
2.5 封閉式組合電器,采用典型元件應(yīng)在機械壽命試驗和溫升試驗前、后進行密封試驗,不再進行高、低溫密封試驗。